2006

• Characterization of polymer thin films deposited on aluminum films by the combined optical method and atomic force microscopy

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr NEPUSTILOVÁ Růžena BAJER Svatopluk

  Článek v odborném periodiku

  Surface and Interface Analysis, rok: 2006, ročník: 38, vydání: 4

• Influence of lateral dimensions of the irregularities on the optical quantities of rough surfaces

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Optics A: Pure and Applied Optics, rok: 2006, ročník: 8, vydání: 9

2005

• Application of the wavelet transformation in AFM data analysis

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Acta Physica Slovaca, rok: 2005, ročník: 55, vydání: 3

• Combination of optical methods and atomic force microscopy at characterization of thin film systems

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KLAPETEK Petr

  Článek v odborném periodiku

  Acta physica slovaca, rok: 2005, ročník: 55, vydání: 3

• Comparison of effective medium approximation and Rayleigh-Rice theory concerning ellipsometric characterization of rough surfaces

  FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Optics Communications, rok: 2005, ročník: 248, vydání: 1

• Měření nanodrsnosti pomocí optických metod a mikroskopie atomové síly

  OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel KLAPETEK Petr

  Článek ve sborníku

  Kvalita a GPS 2005, rok: 2005

• Scanning thermal microscopy - theory and applications

  KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan BURŠÍK Jiří

  Článek v odborném periodiku

  Jemná mechanika a optika, rok: 2005, ročník: 50, vydání: 11-12