prof. RNDr. Ivan Ohlídal, DrSc.

2022

• Optical characterization of inhomogeneous thin films with randomly rough boundaries exhibiting wide intervals of spatial frequencies

  OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří BURŠÍKOVÁ Vilma DVOŘÁK Jan KLAPETEK Petr KAUR Nupinder Jeet

  Článek v odborném periodiku

  Optics Express, rok: 2022, ročník: 30, vydání: 21, DOI

• Soubor dělicích vrstev ve specifikaci s parametry prvního děliče Rp = 50 % ± 3 % @248 nm; druhého děliče Rp = <0,4; 0,75> a Rs < 1 % na vlnové délce 248 nm a zvýšenou propustností v oblasti od 630 nm do 670 nm.

  PEKAŘ Václav BŘEZINA Jaromír ŠKODA David OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel FRANTA Pavel DVOŘÁK Jan OHLÍDAL Miloslav ŠULC Václav KLAPETEK Petr HAVLÍČEK Marek

  Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)

  Rok: 2022

2021

• Characterization of randomly rough surfaces using angle-resolved scattering of light and atomic force microscopy

  ŠUSTEK Štěpán VOHÁNKA Jiří OHLÍDAL Ivan OHLÍDAL Miloslav ŠULC Václav KLAPETEK Petr KAUR Nupinder Jeet

  Článek v odborném periodiku

  Journal of Optics, rok: 2021, ročník: 23, vydání: 10, DOI

• Optics of Inhomogeneous Thin Films with Defects: Application to Optical Characterization

  OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří ČERMÁK Martin

  Článek v odborném periodiku

  Coatings, rok: 2021, ročník: 11, vydání: 1, DOI

• Vysoceodrazná vrstva na substrátu ve specifikaci R >= 98,5 % @ 248 nm a R >= 98 % @ 213 nm pro úhel dopadu 45.

  PEKAŘ Václav BŘEZINA Jaromír ŠKODA David OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel FRANTA Pavel DVOŘÁK Jan OHLÍDAL Miloslav ŠULC Václav KLAPETEK Petr HAVLÍČEK Marek

  Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)

  Rok: 2021

2020

• Antireflexní vrstva na substrátu ve specifikaci T>=99,8 %@ 248 nm a T>=98,5 % @ 213 nm.

  PEKAŘ Václav BŘEZINA Jaromír ŠKODA David OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel FRANTA Pavel OHLÍDAL Miloslav ŠULC Václav KLAPETEK Petr HAVLÍČEK Marek

  Technicky realizované výsledky (prototyp, funkční vzorek)

  Rok: 2020

• Determining shape of thickness non-uniformity using variable-angle spectroscopic ellipsometry

  VOHÁNKA Jiří ŠUSTEK Štěpán BURŠÍKOVÁ Vilma ŠKLÍBOVÁ Veronika ŠULC Václav HOMOLA Vojtěch FRANTA Daniel ČERMÁK Martin OHLÍDAL Miloslav OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Applied Surface Science, rok: 2020, ročník: 534, vydání: December 2020, DOI

• Ellipsometric characterization of highly non-uniform thin films with the shape of thickness non-uniformity modeled by polynomials

  VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel ČERMÁK Martin HOMOLA Vojtěch BURŠÍKOVÁ Vilma OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Optics Express, rok: 2020, ročník: 28, vydání: 4, DOI

• Ellipsometric characterization of inhomogeneous thin films with complicated thickness non-uniformity: application to inhomogeneous polymer-like thin films

  OHLÍDAL Ivan VOHÁNKA Jiří BURŠÍKOVÁ Vilma ŠULC Václav ŠUSTEK Štěpán OHLÍDAL Miloslav

  Článek v odborném periodiku

  Optics Express, rok: 2020, ročník: 28, vydání: 24, DOI

• Optical quantities of a multilayer system with randomly rough boundaries and uniaxial anisotropic media calculated using the Rayleigh-Rice theory and Yeh matrix formalism

  ČERMÁK Martin VOHÁNKA Jiří FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan

  Článek v odborném periodiku

  Physica Scripta, rok: 2020, ročník: 95, vydání: 9, DOI